STIM (Microscopía iónica de transmisión por barrido)

La microscopía iónica de transmisión por barrido (STIM) es una técnica disponible en el CMAM que detecta iones transmitidos (p. ej., protones o iones de helio —partícula alfa—). La forma en que las partículas pierden energía en la muestra se aprovecha para obtener información sobre las variaciones de estructura y densidad dentro de ella.

STIM es útil para correlacionar los datos de elementos traza con las características estructurales y puede utilizarse, por ejemplo, para facilitar el posicionamiento de secciones no teñidas antes del análisis. La STIM se basa en las peculiaridades del mecanismo de pérdida de energía de un ion de alta energía, causado por las interacciones ion-electrón, al atravesar muestras como una célula completa. Debido a las grandes diferencias de momento entre el ion y el electrón, el ion emerge del proceso de dispersión ion-electrón en ángulos pequeños, mientras que la probabilidad de dispersión en ángulos grandes debido a las interacciones nucleares es insignificante. Por lo tanto, el haz de iones tiene una propagación mínima cuando pasa a través de la célula y esto hace posible la obtención de imágenes de detalles finos en secciones relativamente gruesas, como se ilustra en las figuras siguientes.

Comparación entre la penetración de haces de protones y electrones en SiO₂ a 3 MeV y 30 keV, respectivamente. Las imágenes de los haces p y e se simularon con los programas SRIM y CASINO, respectivamente.