Instalaciones complementarias
LABORATORIO DE ÓPTICA
El laboratorio de óptica dispone de varias técnicas experimentales para el análisis de los materiales irradiados.
Prism-coupling para caracterización óptica de guias de onda:
Con esta técnica se mide el índice de refracción efectivo de los modos de propagación de una guía de ondas. A partir de esta medición se determina el perfil del índice de refracción en profundidad de la guía de ondas. Las pérdidas de propagación óptica también se pueden determinar utilizando una cámara CCD para medir y analizar la luz dispersada.
Reflectancia óptica y transmitancia:
Hay disponible un sistema casero construido con luz blanca (rango UV-VIS) y fibras ópticas para enviar la luz a las muestras, que opcionalmente se puede calentar a 400 ºC en un horno tipo placa. Hay dos posibles detectores: un espectrómetro compacto Ocean Q65000 (λ: 200-900 nm) y un espectrómetro de alta resolución Andor-SR500i con detector de cámara ANDOR Newton de alta sensibilidad (λ: 200-1000 nm).
Espectroscopia Raman también disponible a una longitud de onda de 532 nm..
Elipsómetro Woolam M2000 (rango de longitud de onda: 200-1000 nm) para mediciones multicanal paralelas rápidas (tiempo de integración < 1 s).
Todos estos equipos portátiles se pueden utilizar para la medición óptica in situ durante la irradiación de iones.
MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA (AFM)
En el CMAM hay disponible un Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de Nanotec Electrónica (Sistema Dulcinea, operado con el software WSxM).
Caracterización reciente de superficies de materiales utilizando el AFM del CMAM:
Caracterización de aleaciones biomédicas de Ti modificadas por irradiación de iones
De izquierda a derecha: imágenes AFM de aleaciones de TiAlV después de la irradiación micropatronada con iones de Si de 5 MeV y posterior grabado químico HF:EtOH con: soluciones izquierda 1:1, media 1:2 y derecha 1:4. De: R. López Nebreda. Trabajo Fin de Máster (junio 2018).
Caracterización de Materiales 2D
Imagen AFM y perfil de altura de una plaqueta MoTe2 típica cultivada por teurización de MoO2. De: O. de Melo, et al. J.Mater. química C, 2018, 6, 6799.
INSTRUMENTACIÓN DE LABORATORIO AUXILIAR
- Dual Magnetron sputtering system
- Veeco Dektak 150 surface Perfilometer
- Emitech Sputter Gold Coater and CA7625 Carbon accessory
- Telstar Cryodos Freeze dryer
- Leica CM 1510S cryotome
- CO2 Biological cells incubator
- Nikon SMZ800 Binocular Microscope
- Nikon Eclipse ME600 Binocular Microscope
- Struers Roto-vol 35 polishing machine
- ATA Brillant 250 diamond saw
- Carbolite 1200 C electric oven
- Marssen 15 tons press
