Nuevo trabajo de graduación (TFG) en CMAM
Nuevo trabajo de fin de grado (TFG) se ha llevado a cabo en CMAM sobre “Simulación y análisis de la implantación con iones de alta energía”, que ha sido defendido por Jaime Calvo Barrio de la Escuela de Ingenieros Industriales de la Universidad Politécnica de Madrid en Septiembre de 2021.
Este trabajo ha usado la implantación iónica como técnica que consiste en la aceleración de iones de un elemento elegido, hasta una determinada energía, penentrando en un blanco y siendo implantado en su interior, modificando el material y dotándolo de nuevas propiedades.
Este proyecto se llevó a cabo dentro del área de la simulación de esta técnica y se hicieron cuatro casos diferentes de implantación: Oro de 1,5 MeV implantado en un sustrato de silicio, 4 MeV de oro implantado en un sustrato de dióxido de silicio (SiO2), 1 MeV de yodo implantado en un sustrato de zafiro (Al2O3) y Níquel de 600 keV implantado en un sustrato de silicio.
Las condiciones de estas implantaciones fueron simuladas con dos programas diferentes, SRIM y Strata, que dieron la información necesaria para hacer una comparación posterior con los datos experimentales obtenidos del Centro de Microanálisis de Materiales (CMAM) de la Universidad Autónoma de Madrid.
Este trabajo de Graduación ha sido dirigido por Ovidio Peña Rodríguez del IFN (UPM) y Miguel Luis Crespillo del CMAM (UAM).